Characterization of defects in materials - symposium held December 1-2, 1986, Boston, Massachusetts, U.S.A
- Författare
- (Editors: Richard W. Siegel, Julia R. Weertman, Robert Sinclair.)
- Genre
- Konferenspublikation, Bibliografi
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Materials Research Society | cop. 1987 | USA, Pittsburgh, Pa | xv, 532 sidor. ill. |